Characterization of chromium silicide thin layer formed on amorphous silicon films

Authors: Caputo D., de Cesare G., Ceccarelli M., Nascetti A., Tucci M., Meda L., Losurdo M., Bruno G.
Years: 2008
Source Title:
Doi: 10.1016/j.jnoncrysol.2007.10.040
Venue: NanoChem @ URT Bari