Annealing temperature effects on the electrical characteristics of p-channel polysilicon thin film transistors

Authors: Cuscuna M., Stracci G., Bonfiglietti A., di Gaspare A., Maiolo L., Pecora A., Mariucci L., Fortunato G.
Years: 2006
Source Title: Journal of Non-Crystalline Solids
Doi: 10.1016/j.jnoncrysol.2005.10.050
Venue: CNR Nanotec @ Lecce